PDM光子檢測器

產品資訊：

PDM系列的光子計數檢測器，皆為實體的 (solid-state) 低價格儀器。在波長 550nm下，儀器擁有48%的光子檢測效率，並對每個檢測光子產生一個TTL 輸出脈衝。使用快速時序選項（需安裝額外的電路板），與50ps FWHM的光子時序比較，儀器能夠提供更好的解析度。

使用磊晶矽單光子崩潰二極體(SPAD)以及專利的整合主動式淬熄電路 (iAQC)，儀器擁有傑出的光子檢測效率與優秀的時序解析度，並且對於光子計數應用，經過特別的設計與最佳化。

低雜訊的SPADs與低功率的iAQCs，讓這些模組理想地用於可攜式設備，以及符合需要低功率消耗的應用。

並且，對於PDM系列模組，MPD有助於滿足客戶對於特殊產品設計的需求，例如崩潰光電二極體(如IR光子檢測所使用III-V半導體裝置)

，以及包含多個iAQC的模組，可用於SPAD檢測陣列或quad-cell檢測器，和其他相關模組。

	應用：
	螢光檢測單分子檢測自適應光學量子密碼光達技術 (LIDAR) 教育應用光子計數檢測器
	特色：
	強健性與低成本不需TE冷卻（選購）檢測效率 48% @ 550nm 時序解析度＜ 50ps FWVM 低功率消耗使用簡易
	產品尺寸(單位：mm)

產品規格 @ 25"C與5V電壓	最小	一般	最大	單位
光子檢測效率 @ 400nm @ 550nm @ 650nm	...........	27 48 35	...........	%
單光子時序解析度 TTL計數輸出 NIM時序輸出 (需要額外的內部電路板)	...........	.........	250 50	ps (FWHM)
After-pulsing probability	0.1	0.5	1.5	%
Dead time	..........	65	...........	ns
供應電壓	DC電壓，5V ~ 12V
輸出脈衝上升與下降時間輸出脈衝持續時間 Gate input 供應輸入連接器	＜ 2ns，於10pF負載下一般為20ns TTL控制 (low level gates detector off) 標準3.5mm供應插槽

依照低暗計數 (dark counts) 規格，PDM模組可用於不同階度 (grades)。

PDM能選擇非常小的低暗計數模組，以滿足客戶的需求！

TOP