光子檢測器

    Delivery time:5-7 days
  • Description

產品資訊:
PDM系列的光子計數檢測器,皆為實體的 (solid-state) 低價格儀器。在波長 550nm下,儀器擁有48%的光子檢測效率,並對每個檢測光子產生一個TTL 輸出脈衝。使用快速時序選項(需安裝額外的電路板),與50ps FWHM的光子時序比較,儀器能夠提供更好的解析度。

使用磊晶矽單光子崩潰二極體(SPAD)以及專利的整合主動式淬熄電路 (iAQC),儀器擁有傑出的光子檢測效率與優秀的時序解析度,並且對於光子計數應用,經過特別的設計與最佳化。

低雜訊的SPADs與低功率的iAQCs,讓這些模組理想地用於可攜式設備,以及符合需要低功率消耗的應用。

並且,對於PDM系列模組,MPD有助於滿足客戶對於特殊產品設計的需求,例如崩潰光電二極體(如IR光子檢測所使用III-V半導體裝置),以及包含多個iAQC的模組,可用於SPAD檢測陣列或quad-cell檢測器,和其他相關模組。

 應用: 
  
螢光檢測
單分子檢測
自適應光學
量子密碼
光達技術 (LIDAR)
教育應用光子計數檢測器
 特色:
  
強健性與低成本
不需TE冷卻(選購)
檢測效率 48% @ 550nm
時序解析度< 50ps FWVM
低功率消耗
使用簡易

產品尺寸(單位:mm)

產品規格 @ 25"C與5V電壓

最小

一般

最大

單位

光子檢測效率

@ 400nm

@ 550nm

@ 650nm

 

...........

27

48

35

...........

%

單光子時序解析度

TTL計數輸出

NIM時序輸出 (需要額外的內部電路板)

 

........... .........

250

50

ps

(FWHM)

After-pulsing probability

0.1

0.5

1.5

%

Dead time

..........

65

...........

ns

供應電壓

DC電壓,5V ~ 12V

輸出脈衝上升與下降時間

輸出脈衝持續時間

Gate input

供應輸入連接器

< 2ns,於10pF負載下

一般為20ns

TTL控制 (low level gates detector off)

標準3.5mm供應插槽

依照低暗計數 (dark counts) 規格,PDM模組可用於不同階度 (grades)

PDM能選擇非常小的低暗計數模組,以滿足客戶的需求!

 

主動面積直徑

TE Cooled

低暗計數 (c/s)

A

B

C

20μm

.............

<250

.......... ..........

20μm

*

25

.......... ..........

50μm

..........

<5k

.......... ..........

50μm

*

<250

<100

50

100μm

..........

<20k

.......... ..........

100μm

*

<1k

<500

250