傳統量測
於Organic Electronics與Photovoltaics的模擬分析中,我們察覺了使用者量測上的需求。在過去設置穩定態與transient opto-electrical 特性的裝置時其過程冗長與耗時。經常被使用與特定的量測被設計成不同類別的量測系統再使其與自動化控制平台相結合。
然而這些量測數據因不同硬體系統間量測誤差不同,因此並無法直接拿來相互比較。因此如何使實驗裝置元件最佳化與取得準確的參數是挑戰的目標。
如無法取得可靠的實驗參數,便如法建立正確的模型與元件功率的模擬。