時間:2025/05/30(五) 下午 02:00-04:00
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隨著現代電子產品逐漸朝向小型化和多功能整合的方向發展,市場對高效能與低功耗的需求也日益增加,CoWoS(Chip-on-Wafer-on-Substrate)與 FoPLP(Fan-out Panel Level Packaging)等先進封裝技術成為焦點。同時,也因為半導體封裝3D IC 堆疊、異質整合及其 TSV、RDL等複雜度的不斷提升,也帶來結構完整性(Structural Integrity)、訊號完整性(Signal integrity)、熱管理(Thermal Management)、電磁性能(Electromagnetic Performance)以及電磁干擾(Electromagnetic Interference, EMI/EMC)等方面的新挑戰。如何有效解決這些問題,成為半導體從業人員關心的重要課題。
本次研討會將深入探討如何利用 COMSOL 6.3 模擬軟體解決半導體封裝階段中遇到的各種問題,包括翹曲分析(Warpage Analysis)、熱應力分析(Thermal Stress Analysis)、電磁模擬(Electromagnetic Simulation)、應力集中分析(Stress Concentration Analysis)、材料選擇優化(Material Selection Optimization)、衝擊測試(Impact Testing)、封膠(Encapsulation)、溫濕度環境測試(Temperature and Humidity Testing)、腐蝕環境測試(Corrosion Testing)以及如何結合人工智慧(AI)進行優化。此外,我們還將介紹如何透過 CAE 模擬技術提升封裝的可靠度與效能,並以實際案例展示解決方案,幫助您應對現實中各種複雜條件。
研討會亮點:
多物理場耦合應用:深入了解多物理場耦合(Multiphysics Coupling)技術,如何有效整合熱、結構、電磁三者進行協同模擬,提升封裝設計的整體效能。
翹曲與熱管理的最佳實踐:講解如何在封裝過程中運用翹曲分析和熱應力管理技術,確保產品在嚴苛的操作條件下依然穩定運行。
衝擊測試與應力分析:探索如何透過衝擊測試與應力集中分析,確保封裝的結構在外力作用下的穩定性和可靠性。
材料與幾何的設計優化:探索如何使用 COMSOL 6.3 進行材料選擇及幾何設計優化,以提高產品的性能和可靠性,並減少生產成本。
電磁干擾與屏蔽技術:深入探討如何進行 EMI/EMC 分析及磁干擾的模擬與解決方案,以確保產品符合嚴格的電磁兼容性標準。
AI 技術應用於封裝優化:講解如何利用 AI 技術提升封裝設計效率,快速進行設計空間探索與優化。
實際案例分享:由經驗豐富的講師團隊分享多個真實的半導體封裝案例,透過詳細的步驟解析,幫助您掌握如何應用模擬工具解決實際工程問題。
講師介紹:
參加本次研討會,您將獲得:
這次研討會專為面臨半導體封裝挑戰的技術人員、工程師以及產品開發團隊而設,無論您是剛入行的工程師,還是擁有多年經驗的專家,都能在這次研討會中找到對您有幫助的技術見解與實務經驗,幫助您在產品開發中掌握更具競爭力的解決方案。