eDAQ-Contactless Conductivity 無接觸導電度

無接觸導電度簡介

eDAQ提供多種用於電容耦合無接觸導電度檢測（C4D）的產品。請查看C4D產品的完整列表。C4D可用於：

- 毛細管電泳（CE）

- 微晶片電泳（MCE）

- 離子色譜（IC）和高效液相色譜（HPLC）

- 流動注射分析（FIA）

- 其他導電度測量

C4D產品分為三類。在應用說明中了解更多。

- 第一類：C4D探測器

- 第二類：C4D監測器

- 第三類：C4D測量儀

無接觸導電度測量的基礎在圖1、2和3中有解釋：

圖1. C4D使用發射電極對樣品區域施加大幅度、高頻的電磁信號。相應的、衰減的交流信號在接收電極處註冊。

圖2. 接收到的信號大小受樣品導電度的影響。

圖3. 接收到的交流信號經過解卷積處理，將幅度轉換為適合數據收集的直流模擬電壓信號。

當分析物離子進入檢測區域時，會對整體樣品的導電度造成細微變化。連續監測導電度信號會顯示一系列峰值，其面積（或高度）與分析物濃度相關。信號處理方式類似於傳統色譜圖。

由於絕大多數用於CE的分析物是離子性的，C4D系統作為一種「通用」檢測方法，僅需要最小的樣品準備。這項技術也可以與紫外-可見吸收或熒光檢測並行使用。靈敏度通常與紫外-可見吸收檢測相似。點擊查看引用和C4D資源。

C4D電極不直接接觸樣品。無接觸導電度檢測相比接觸導電度檢測有幾個優勢：

樣品不與探測器電極接觸，因此分析有害、腐蝕性或放射性液體較為容易。不會有前一個樣品的殘留或記憶效應。電極不會劣化或極化。

C4D提供電氣隔離測量，這意味著它不會干擾同一液體中進行的其他測量。

可以使用非常小的樣品體積，少於20納升是可能的。